世界の半導体計測&検査市場2021年-2031年:種類別(ウェハ検査装置、マスク検査装置、薄膜計測、バンプ検査、リードフレーム検査)、技術別、組織規模別

【英語タイトル】Semiconductor Metrology and Inspection Market By Type (Wafer inspection system, Mask inspection system, Thin film metrology, Bump inspection, Lead frame inspection), By Technology (Optical, E-beam), By Organization size (Large enterprises, SMEs): Global Opportunity Analysis and Industry Forecast, 2021-2031

Allied Market Researchが出版した調査資料(ALD23FB015)・商品コード:ALD23FB015
・発行会社(調査会社):Allied Market Research
・発行日:2022年10月
   最新版(2025年又は2026年)はお問い合わせください。
・ページ数:214
・レポート言語:英語
・レポート形式:PDF
・納品方法:Eメール(受注後24時間以内)
・調査対象地域:グローバル
・産業分野:建築&製造
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❖ レポートの概要 ❖

Allied Market Research社の本調査資料は、世界の半導体計測&検査市場規模が2021年7293.3百万ドルから2031年13246.8百万ドルに達し、2022年から2031年まで年平均6.2%成長すると予測しています。当書は、半導体計測&検査の世界市場を調査対象とし、イントロダクション、エグゼクティブサマリー、市場概要、種類別(ウェハ検査装置、マスク検査装置、薄膜計測、バンプ検査、リードフレーム検査)分析、技術別(光学、電子ビーム)分析、組織規模別(大企業、中小企業)分析、地域別(北米、ヨーロッパ、アジア太平洋、中南米・中東・アフリカ)分析、企業状況などについて以下の構成でまとめています。なお、参入企業情報として、Applied Materials, Inc.、ASML Holding N.V、Canon Inc.、Hitachi Ltd.、JEOL Ltd.、KLA Corporation、Lasertec Corporation、Nova Ltd.、Onto Innovation, Inc、Thermo Fisher Scientific Inc.などが含まれています。
・イントロダクション
・エグゼクティブサマリー
・市場概要
・世界の半導体計測&検査市場規模:種類別
- ウェハ検査装置の市場規模
- マスク検査装置の市場規模
- 薄膜計測の市場規模
- バンプ検査の市場規模
- リードフレーム検査の市場規模
・世界の半導体計測&検査市場規模:技術別
- 光学技術の市場規模
- 電子ビーム技術の市場規模
・世界の半導体計測&検査市場規模:組織規模別
- 大企業における市場規模
- 中小企業における市場規模
・世界の半導体計測&検査市場規模:地域別
- 北米の半導体計測&検査市場規模
- ヨーロッパの半導体計測&検査市場規模
- アジア太平洋の半導体計測&検査市場規模
- 中南米・中東・アフリカの半導体計測&検査市場規模
・企業状況
・企業情報

世界の半導体計測・検査市場規模は、2021年に72億9,330万ドルと評価され、2022年から2031年までの年平均成長率は6.2%を記録し、2031年には132億4,680万ドルに達すると予測されています。
半導体計測・検査装置は、半導体処理後のウェハや薄膜のインライン検査用に設計されています。検査機器を使用して、特定の基準に適合しているか、適合していないか、また異常や不適性がないかをチェックします。これはウェハ上のパーティクルや欠陥を検出する工程です。

消費者による電子機器需要の増加はチップの需要を促進し、その結果、予測期間を通じて間接的に半導体計測・検査の需要を押し上げると予想されます。中国や台湾では、スマートフォン、ウェアラブル端末、白物家電などの電子製品が大量生産されており、オプトエレクトロニクス、MEMS、MOEMSなどのデバイスが使用されています。さらに、アジア太平洋地域は、インドや中国などの国々における半導体産業開発への支出の増加により、より高い成長率を目の当たりにすることが予想され、これが市場成長を牽引しています。さらに、米国、韓国、中国、インドなどの国では、半導体製造産業への投資が増加しています。例えば、2022年6月、インド政府は、インドがIT産業を再構築し、半導体サプライチェーンを構築するために300億ドルを費やすと発表しました。このような要因が半導体計測・検査市場の成長を後押ししています。

半導体計測・検査市場は、種類、技術、組織規模、地域によって区分されます。種類別では、市場はウェハ検査システム、マスク検査システム、薄膜計測、バンプ検査、リードフレーム検査に区分されます。技術別では、市場は光学式と電子ビーム式に分けられます。組織規模別では、市場は大企業と中小企業に分けられます。地域別では、北米、欧州、アジア太平洋、LAMEAに市場を分けて分析しています。

競合分析
半導体計測・検査市場で事業を展開する主要企業は、Applied Materials Inc.、ASML Holding N.V.、キヤノン株式会社、株式会社日立ハイテクノロジーズ、日本電子株式会社、KLA Corporation、レーザーテック株式会社、Nova Ltd.、Onto Innovation, Inc.、Thermo Fisher Scientific Inc.です。

ステークホルダーにとっての主なメリット
・世界の半導体計測・検査市場の動向とダイナミクスを幅広く分析しています。
・2022年から2031年にかけての主要市場セグメントの市場予測を構築することで、世界の半導体計測・検査市場を詳細に分析します。
・半導体計測・検査市場について、主要製品のポジショニングと市場枠内での上位競合のモニタリングにより広範な分析を実施しています。
・全地域を包括的に分析し、ビジネスチャンスを見極めます。
・半導体計測・検査市場の2022年から2031年までの予測分析も含まれています。
・半導体計測・検査市場の主要プレイヤーをプロファイルし、その戦略を徹底的に分析することで、半導体計測・検査業界の競争展望を理解するのに役立ちます。

〈主要市場セグメント〉
種類別
ウェハ検査装置
マスク検査装置
薄膜計測
バンプ検査
リードフレーム検査

技術別
光学
電子ビーム

組織規模別
大企業
中小企業

地域別
・北米
米国
カナダ
メキシコ
・ヨーロッパ
ドイツ
フランス
イギリス
イタリア
その他のヨーロッパ
・アジア太平洋
中国
日本
韓国
台湾
その他のアジア太平洋地域
・LAMEA
ラテンアメリカ
中東
アフリカ

〈主要市場プレイヤー〉
Applied Materials, Inc.
ASML Holding N.V
キヤノン株式会社
株式会社日立製作所
日本電子株式会社
KLA Corporation
Lasertec Corporation
Nova Ltd.
Onto Innovation, Inc
Thermo Fisher Scientific Inc.

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❖ レポートの目次 ❖

第1章:はじめに
1.1.レポート概要
1.2.主要市場セグメント
1.3.ステークホルダーへの主な利点
1.4.調査方法論
1.4.1.二次調査
1.4.2.一次調査
1.4.3.アナリストツールとモデル
第2章:エグゼクティブサマリー
2.1.調査の主な結果
2.2.CXOの視点
第3章:市場概要
3.1.市場定義と範囲
3.2.主な調査結果
3.2.1.主要投資分野
3.3.ポーターの5つの力分析
3.4.市場動向
3.4.1.推進要因
3.4.2.抑制要因
3.4.3.機会
3.5.市場へのCOVID-19影響分析
第4章:半導体計測・検査市場(タイプ別)
4.1 概要
4.1.1 市場規模と予測
4.2 ウェーハ検査システム
4.2.1 主要市場動向、成長要因および機会
4.2.2 地域別市場規模と予測
4.2.3 国別市場シェア分析
4.3 マスク検査装置
4.3.1 主要市場動向、成長要因および機会
4.3.2 地域別市場規模と予測
4.3.3 国別市場シェア分析
4.4 薄膜計測技術
4.4.1 主要市場動向、成長要因および機会
4.4.2 地域別市場規模と予測
4.4.3 国別市場シェア分析
4.5 バンプ検査
4.5.1 主要市場動向、成長要因および機会
4.5.2 地域別市場規模と予測
4.5.3 国別市場シェア分析
4.6 リードフレーム検査
4.6.1 主要市場動向、成長要因および機会
4.6.2 地域別市場規模と予測
4.6.3 国別市場シェア分析
第5章:半導体計測・検査市場(技術別)
5.1 概要
5.1.1 市場規模と予測
5.2 光学式
5.2.1 主要市場動向、成長要因および機会
5.2.2 地域別市場規模と予測
5.2.3 国別市場シェア分析
5.3 電子ビーム
5.3.1 主要市場動向、成長要因および機会
5.3.2 地域別市場規模と予測
5.3.3 国別市場シェア分析
第6章:半導体計測・検査市場(組織規模別)
6.1 概要
6.1.1 市場規模と予測
6.2 大企業
6.2.1 主要市場動向、成長要因および機会
6.2.2 地域別市場規模と予測
6.2.3 国別市場シェア分析
6.3 中小企業
6.3.1 主要市場動向、成長要因および機会
6.3.2 地域別市場規模と予測
6.3.3 国別市場シェア分析
第7章:半導体計測・検査市場(地域別)
7.1 概要
7.1.1 市場規模と予測
7.2 北米
7.2.1 主な動向と機会
7.2.2 北米市場規模と予測(タイプ別)
7.2.3 北米市場規模と予測(技術別)
7.2.4 北米市場規模と予測(組織規模別)
7.2.5 北米市場規模と予測(国別)
7.2.5.1 米国
7.2.5.1.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.2.5.1.2 市場規模と予測(タイプ別)
7.2.5.1.3 技術別市場規模と予測
7.2.5.1.4 組織規模別市場規模と予測
7.2.5.2 カナダ
7.2.5.2.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.2.5.2.2 市場規模と予測(タイプ別)
7.2.5.2.3 市場規模と予測(技術別)
7.2.5.2.4 市場規模と予測(組織規模別)
7.2.5.3 メキシコ
7.2.5.3.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.2.5.3.2 市場規模と予測(タイプ別)
7.2.5.3.3 技術別市場規模と予測
7.2.5.3.4 企業規模別市場規模と予測
7.3 欧州
7.3.1 主要動向と機会
7.3.2 欧州市場規模と予測(タイプ別)
7.3.3 欧州市場規模と予測(技術別)
7.3.4 欧州市場規模と予測(組織規模別)
7.3.5 欧州市場規模と予測(国別)
7.3.5.1 ドイツ
7.3.5.1.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.3.5.1.2 タイプ別市場規模と予測
7.3.5.1.3 技術別市場規模と予測
7.3.5.1.4 組織規模別市場規模と予測
7.3.5.2 フランス
7.3.5.2.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.3.5.2.2 タイプ別市場規模と予測
7.3.5.2.3 技術別市場規模と予測
7.3.5.2.4 企業規模別市場規模と予測
7.3.5.3 イギリス
7.3.5.3.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.3.5.3.2 市場規模と予測(タイプ別)
7.3.5.3.3 市場規模と予測(技術別)
7.3.5.3.4 市場規模と予測(組織規模別)
7.3.5.4 イタリア
7.3.5.4.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.3.5.4.2 タイプ別市場規模と予測
7.3.5.4.3 技術別市場規模と予測
7.3.5.4.4 組織規模別市場規模と予測
7.3.5.5 その他の欧州地域
7.3.5.5.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.3.5.5.2 タイプ別市場規模と予測
7.3.5.5.3 技術別市場規模と予測
7.3.5.5.4 組織規模別市場規模と予測
7.4 アジア太平洋地域
7.4.1 主要動向と機会
7.4.2 アジア太平洋地域市場規模と予測(タイプ別)
7.4.3 アジア太平洋地域:技術別市場規模と予測
7.4.4 アジア太平洋地域:組織規模別市場規模と予測
7.4.5 アジア太平洋地域:国別市場規模と予測
7.4.5.1 中国
7.4.5.1.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.4.5.1.2 タイプ別市場規模と予測
7.4.5.1.3 技術別市場規模と予測
7.4.5.1.4 企業規模別市場規模と予測
7.4.5.2 日本
7.4.5.2.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.4.5.2.2 タイプ別市場規模と予測
7.4.5.2.3 技術別市場規模と予測
7.4.5.2.4 組織規模別市場規模と予測
7.4.5.3 韓国
7.4.5.3.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.4.5.3.2 市場規模と予測(タイプ別)
7.4.5.3.3 市場規模と予測(技術別)
7.4.5.3.4 市場規模と予測(組織規模別)
7.4.5.4 台湾
7.4.5.4.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.4.5.4.2 タイプ別市場規模と予測
7.4.5.4.3 技術別市場規模と予測
7.4.5.4.4 企業規模別市場規模と予測
7.4.5.5 アジア太平洋地域その他
7.4.5.5.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.4.5.5.2 タイプ別市場規模と予測
7.4.5.5.3 技術別市場規模と予測
7.4.5.5.4 組織規模別市場規模と予測
7.5 LAMEA
7.5.1 主要動向と機会
7.5.2 LAMEA 市場規模と予測(タイプ別)
7.5.3 LAMEA 市場規模と予測(技術別)
7.5.4 LAMEA 市場規模と予測(組織規模別)
7.5.5 LAMEA 市場規模と予測(国別)
7.5.5.1 ラテンアメリカ
7.5.5.1.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.5.5.1.2 タイプ別市場規模と予測
7.5.5.1.3 技術別市場規模と予測
7.5.5.1.4 組織規模別市場規模と予測
7.5.5.2 中東
7.5.5.2.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.5.5.2.2 タイプ別市場規模と予測
7.5.5.2.3 技術別市場規模と予測
7.5.5.2.4 企業規模別市場規模と予測
7.5.5.3 アフリカ
7.5.5.3.1 主要市場動向、成長要因および機会
7.5.5.3.2 市場規模と予測(タイプ別)
7.5.5.3.3 市場規模と予測(技術別)
7.5.5.3.4 市場規模と予測(組織規模別)
第8章:企業動向
8.1. はじめに
8.2. 主要な成功戦略
8.3. トップ10企業の製品マッピング
8.4. 2021年における主要企業のポジショニング
8.5. 競争ダッシュボード
8.6. 競争ヒートマップ
8.7. 主要動向
第9章:企業プロファイル
9.1 アプライド マテリアルズ社
9.1.1 会社概要
9.1.2 主要幹部
9.1.3 会社スナップショット
9.1.4 事業セグメント
9.1.5 製品ポートフォリオ
9.1.6 業績動向
9.1.7 主要な戦略的動向と進展
9.2 ASMLホールディングN.V.
9.2.1 会社概要
9.2.2 主要幹部
9.2.3 会社概要
9.2.4 事業セグメント
9.2.5 製品ポートフォリオ
9.2.6 業績動向
9.2.7 主要な戦略的動向と展開
9.3 キヤノン株式会社
9.3.1 会社概要
9.3.2 主要幹部
9.3.3 会社概要
9.3.4 事業セグメント
9.3.5 製品ポートフォリオ
9.3.6 業績動向
9.3.7 主要な戦略的動向と展開
9.4 株式会社日立製作所
9.4.1 会社概要
9.4.2 主要幹部
9.4.3 会社概要
9.4.4 事業セグメント
9.4.5 製品ポートフォリオ
9.4.6 業績動向
9.4.7 主要な戦略的施策と動向
9.5 日本電子株式会社
9.5.1 会社概要
9.5.2 主要幹部
9.5.3 会社概要
9.5.4 事業セグメント
9.5.5 製品ポートフォリオ
9.5.6 業績動向
9.5.7 主要な戦略的動向と進展
9.6 KLA株式会社
9.6.1 会社概要
9.6.2 主要幹部
9.6.3 会社概要
9.6.4 事業セグメント
9.6.5 製品ポートフォリオ
9.6.6 業績動向
9.6.7 主要な戦略的動向と展開
9.7 レーザーテック株式会社
9.7.1 会社概要
9.7.2 主要幹部
9.7.3 会社概要
9.7.4 事業セグメント
9.7.5 製品ポートフォリオ
9.7.6 業績動向
9.7.7 主要な戦略的動向と展開
9.8 ノバ株式会社
9.8.1 会社概要
9.8.2 主要幹部
9.8.3 会社概要
9.8.4 事業セグメント
9.8.5 製品ポートフォリオ
9.8.6 業績動向
9.8.7 主要な戦略的動向と進展
9.9 オン・トゥ・イノベーション社
9.9.1 会社概要
9.9.2 主要幹部
9.9.3 会社概要
9.9.4 事業セグメント
9.9.5 製品ポートフォリオ
9.9.6 業績動向
9.9.7 主要な戦略的動向と進展
9.10 サーモフィッシャーサイエンティフィック社
9.10.1 会社概要
9.10.2 主要幹部
9.10.3 会社概要
9.10.4 事業セグメント
9.10.5 製品ポートフォリオ
9.10.6 業績動向
9.10.7 主要な戦略的施策と動向


※参考情報

半導体計測&検査は、半導体デバイスの製造プロセスにおいて非常に重要な役割を果たします。半導体は、電子機器の基盤となる材料であり、その性能は計測と検査の正確さに大きく依存しています。これらのプロセスは、デバイスが要求される性能基準を満たすことを保証するために行われます。
半導体計測の主要な目的は、デバイスの物理的特性や性能を正確に評価することです。このためには、電気的特性や熱的特性、機械的特性の計測が行われます。具体的な計測方法には、コンタクト型プローブや非接触型の光学計測、電子顕微鏡などが含まれます。また、半導体の性能を測定するためには、信号の発生や伝播を解析する必要があり、時間領域測定や周波数領域測定が行われます。これにより、デバイスの動作速度やエネルギー効率が評価され、最適な設計が促進されます。

検査は、製造プロセス全体の各段階で実施され、欠陥や異常を早期に発見することを目的としています。検査設備は、通常、ウエハレベルで行われる検査、チップレベルでのダイ検査、およびパッケージング後の検査を含みます。これらの検査方法には、X線検査、光学顕微鏡検査、電気的試験などがあります。これにより、微細な欠陥や異物を検出し、製品の信頼性を向上させるための対策を講じることができます。

半導体計測&検査の種類には、さまざまな手法があり、これにはデバイスの特性評価、信号計測、欠陥検査などが含まれます。特に、半導体の特性評価には、直流測定、交流測定、パルス測定などがあり、各種の測定機器が使用されます。一方、欠陥検査においては、自動光学検査やエレクトロンビーム検査など、高度な技術が必要とされます。これらの技術によって、微細な欠陥を高精度で発見することができ、次の製造ステップへ進む前に適切な対応を行うことが可能になります。

半導体計測&検査の用途は多岐にわたり、スマートフォン、コンピュータ、家電製品、自動車、医療機器など、現代のさまざまな電子デバイスに必要不可欠な要素です。また、新しい技術が登場する中で、量子コンピュータや5G通信、人工知能などの分野でも、半導体の高性能化と高信頼性が求められています。これにより、計測および検査技術も進化し続けています。

関連技術としては、材料科学やナノテクノロジーがあります。これらの分野は、半導体材料の特性改善や新素材の開発に寄与しており、半導体計測&検査の精度向上にもつながります。たとえば、FA(ファクトリーオートメーション)技術を活用することで、生産工程の自動化が進み、リアルタイムでのモニタリングが可能になります。これによって、不具合の早期発見や製造コストの削減が実現されます。

総じて、半導体計測&検査は半導体産業の根幹を成す技術であり、新技術の進展によりますます重要性が増しています。これからの業界の発展に伴い、より高度な計測方法や検査手法が求められるようになるでしょう。これにより、半導体デバイスの製造品質や性能は向上し、私たちの生活に欠かせない技術の一端を担うことになると考えられます。


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